功能测试 vs 参数测试：内存测试的两层关卡

内存测试一般分两层：第一层问"数据读写对不对"，第二层问"电气特性达不达标"。

功能测试：写入固定/伪随机图案再读出比对，发现位翻转、邻位干扰、地址线开路等逻辑缺陷。
参数测试：量测开通/关断电平、漏电流、时序建立保持时间等，判断颗粒电气余量是否健康。
只过功能、不过参数的条子，往往短期能跑、长期掉链子，所以两层都要做。

一套完整的测试程序，会把功能与参数用例编排成覆盖矩阵，既要快筛，也要深挖。