DDR4 到 DDR5：测试难点翻了几倍

DDR5 不只是"更快的内存"。对测试工程来说，速率翻倍带来的是时序、电源、信号三重压力。

• 速率提升（DDR5 常见 4800~6400，OC 到 8000）让建立/保持时序窗口大幅收窄，边际测试更苛刻。
• DDR5 引入 on-DIMM PMIC 与更多电源轨，电源测试从"一颗 VDD"变成多轨协同。
• 密度更高、通道更多，并行测试与散热设计都要重做，单条测试时间未必更短。

换句话说，DDR5 普及的同时，测试能力必须同步升级，否则"高速"只意味着"高速翻车"。