抽还是全，是个老问题。本文讲抽样会漏什么、全检贵在哪，以及按失效代价和来源稳定性做选择的实在方法。
温度点选错，测了也白测。本文讲按产品实际温区选测试点的方法，以及为什么不是越宽越好、也不是常温够用。
余量是SLT报告里最值钱的数。本文讲余量是什么、为什么比合格率更能预判风险，以及怎么用余量分布做采购和分级决策。
测越全越贵。本文讲怎么按失效代价定覆盖率：高代价场景全检，低代价抽测，以及SLT在数据上的投入怎么算回本。
合格没有统一答案。本文讲消费级、服务器级、工业级对“合格”的不同要求，以及为什么测试标准要跟着场景走。
POST点亮常被当成“测过了”。本文讲POST的局限：只做基础自检、不压余量、不控温，以及为什么它不能替代SLT。
很多人用MemTest当测试，本文讲它和SLT的本质区别：环境、时长、数据、判定，以及为什么它适合初筛不适合定级。
SLT和ATE常被混用。本文从选购角度讲清两者定位：ATE偏晶圆/颗粒，SLT偏模组系统级，以及什么时候该选哪类设备。
