内存/SSD 持续宽温老化测试 -45 ~ 85℃

面向内存模组、工业 SSD 及嵌入式存储产品,提供-45℃~85℃宽温环境下的持续老化测试服务。 通过长时间温度应力暴露,结合测试前后功能与状态检查,帮助识别潜在的温度相关失效风险,验证产品在宽温环境下的稳定性与可靠性。

通过宽温环境应力与测试前后状态对比,帮助客户识别潜在温度相关风险, 为产品研发验证、供应商导入、来料质量验证、批次筛选及可靠性评估提供客观测试依据。 对需要进行批量验证的内存及 SSD 产品,也可减少企业自建环境测试资源投入。

HEROTEST · 可靠性测试服务
内存 / SSD 持续宽温老化测试
面向内存模组、工业 SSD 及嵌入式存储产品,提供-45℃~85℃宽温环境下的持续老化测试服务。 通过长时间温度应力暴露,结合测试前后功能与状态检查,帮助识别潜在的温度相关失效风险,验证产品在宽温环境下的稳定性与可靠性。
-45℃
低温环境测试
85℃
高温环境测试
持续
长时间环境应力
批量
支持批量样品测试
为什么进行宽温老化测试?
内存和 SSD 在实际应用中可能经历低温、高温以及长时间温度应力。 部分潜在问题在常温短时间测试中并不容易暴露,而持续宽温老化可以通过增加环境应力与测试时间, 帮助发现温度相关的稳定性问题、异常及潜在失效风险,为产品研发、供应商验证和批量质量控制提供依据。
测试对象
DDR3 / DDR4 / DDR5 内存
SODIMM / UDIMM / RDIMM 等不同规格内存模组
工业 SSD
工业级 SATA SSD、M.2 SSD 及其他嵌入式存储产品
服务器 / 工业计算机内存
服务器内存、工业计算平台配套内存及相关模组
批量验证样品
研发样品、供应商样品、来料批次及量产产品抽检
测试服务流程
01
确认需求
温度与时间方案
02
样品登记
型号、批次、数量
03
宽温老化
按确认方案执行
04
状态检测
测试前后对比
05
结果输出
整理测试记录
测试能力与实验环境
配备多台宽温环境试验设备,可开展内存及 SSD 产品的批量宽温老化测试。 根据客户测试目的,可设置不同温度点、升降温过程、保持时间及循环方式。
内存测试设备内存测试设备内存测试设备内存测试设备内存测试设备
宽温测试设备及批量测试环境实拍
测试方案与条件
测试温度范围可覆盖 -45℃~85℃,具体温度点、升降温速率、保持时间、循环次数及样品通电状态, 可根据客户产品规格、应用环境及验证目的制定。

说明:宽温老化测试属于环境应力验证,实际测试条件应以双方确认的测试方案、产品规范或客户要求为准。 对于需要在温箱内持续运行并实时监测功能的产品,应根据产品结构、接口及测试目的另行确认测试方式。
客户可以获得什么?
通过宽温环境应力与测试前后状态对比,帮助客户识别潜在温度相关风险, 为产品研发验证、供应商导入、来料质量验证、批次筛选及可靠性评估提供客观测试依据。 对需要进行批量验证的内存及 SSD 产品,也可减少企业自建环境测试资源投入。
需要进行 -45℃~85℃ 宽温老化测试?
提供产品型号、样品数量、目标温度及测试时间,我们可协助确认测试方案与测试周期。

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